產(chǎn)品綜述

ceyear思儀3672A/B/C/D/E矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品包括3672A（10MHz～13.5GHz）、3672B（10MHz～26.5GHz）、3672C（10MHz～43.5GHz）、3672D（10MHz～50GHz）和3672E（10MHz～67GHz）。3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供頻響、單端口、響應隔離、增強型響應、全雙端口、電校準等多種校準方式，內(nèi)設(shè)對數(shù)幅度、線性幅度、駐波、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，外配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標準接口，除具有傳統(tǒng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的全部測量功能外，還可以通過配置功能選件進行混頻器/變頻器、增益壓縮二維掃描以及脈沖狀態(tài)下S參數(shù)的多功能綜合參數(shù)測試，能精確測量微波網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性、相頻特性和群時延特性。該產(chǎn)品可廣泛應用于發(fā)射/接收（T/R）模塊測量、介質(zhì)材料特性測量、微波脈沖特性測量和光電特性測量等領(lǐng)域，是雷達、通信、導航等系統(tǒng)的科研、生產(chǎn)過程中*的測試設(shè)備。

功能特點

• 校準類型靈活可選，兼容多種校準件

• 支持多窗口、多通道測量，快速執(zhí)行復雜測試方案

• 具有對數(shù)幅度、線性幅度、駐波、Smith圓圖等多種顯示格式

• 具有USB、GPIB、LAN和VGA接口

• 中/英文操作界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點觸控顯示屏

• 錄制/運行，一鍵式操作簡化測量設(shè)置步驟，提高工作效率

• 具有一體化脈沖S參數(shù)測量、時域測量、混頻器測量、增益壓縮二維掃描測量、支持THz擴頻、天線與RCS測量接收等功能

人性化用戶界面簡潔直觀，便于操作，可提高測試效率

校準類型靈活可選，兼容多種校準件

ceyear思儀3672A/B/C/D/E矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供向?qū)剩ㄗ詣踊剩⒎窍驅(qū)剩ㄊ褂脵C械校準件進行直通響應校準、直通響應與隔離校準、單端口校準、增強型響應校準、全雙端口SOLT校準、TRL校準）、電校準（ECal）等多種校準類型，可根據(jù)實際測試需要選擇同軸3.5mm校準件以及電子校準件等多種校準件，方便不同接口類型器件的測試。

多窗口顯示所有測量通道

本產(chǎn)品具有多通道和多窗口顯示功能，多支持64個通道，多可同時顯示16個測量窗口，每個窗口多可同時顯示8條測試軌跡，使觀測結(jié)果更加直觀，用戶使用更加方便。

錄制功能實現(xiàn)一鍵自動化測試

記錄用戶在使用儀器過程中所有操作步驟，同時可以隨時插入用戶編輯的提示對話框，并且準時彈出提示對話框，等待用戶確認，實現(xiàn)用戶交互功能，真正實現(xiàn)了智能儀器一鍵自動化功能。

 大動態(tài)范圍

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用混頻接收的設(shè)計理念，有效擴展整機的測試動態(tài)范圍，可以滿足您對大動態(tài)范圍的測試需求。 

外設(shè)接口豐富，靈活實用

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用兼容PC的嵌入式計算機模塊和Windows操作系統(tǒng)組成的軟硬件平臺，實現(xiàn)了測試儀器和個人計算機的*結(jié)合。用戶可以利用豐富的I/O接口（包括GPIB、USB和LAN等）完成數(shù)據(jù)通訊的選擇。

跡線噪聲小，測量精度高

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀優(yōu)異的跡線噪聲指標極大地提高了整機的測試精度，可滿足用戶精確測量的需要，特別有助于小插損器件的精確測量。（下圖以3672B為例）

典型應用

時域分析可對設(shè)計進行全面表征

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可通過配置時域測量選件實現(xiàn)測量結(jié)果頻域和時域之間的切換，用以確定器件、夾具或者電纜中的不連續(xù)點位置，實現(xiàn)故障精確定位。

增益壓縮二維掃描，提高測試效率

放大器等有源器件的增益壓縮測量應用（S86選件）僅需一次設(shè)置，一次連接，一次校準就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)（包括壓縮點的輸入功率，壓縮點的輸出功率，壓縮點的增益等）和線性參數(shù)（包括線性增益，輸入匹配，輸出匹配等）。具有：

• 快速準確的智能掃描；

• 一目了然的向?qū)剩?/p>

• 方便快捷的USB電子校準，USB功率校準；

• 二維掃描（頻率點掃功率和功率點掃頻率）一次完成；

• 多種壓縮方法——從線性/大增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。

  

混頻器/變頻器測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀四端口測量功能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內(nèi)置雙源，可以完成混頻器/變頻器標量和矢量參數(shù)測試。

1）混頻器/變頻器標量參數(shù)測量

混頻器/變頻器標量測量應用選件（S82選件）可以得到頻域的所有標量參數(shù)（包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等）。相比以往測試方法其優(yōu)勢在于：

• 一次連接設(shè)置，多參數(shù)測試一次性完成；

• 人性化簡易的校準界面；

• 方便快捷的USB電子校準，USB功率校準；

• 內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；

• 基于端口匹配的功率校準技術(shù)；

• 為用戶解決高準確度的混頻器標量參數(shù)測試需求。

 
2）混頻器/變頻器矢量參數(shù)測量

矢量混頻/變頻器件測試應用選件（S83選件）集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試應用軟件。其主要特點包括：

• 測量過程需使用一個參考混頻器進行表征；

• 內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；

• 測試參數(shù)全面，相比于標量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。

濾波器測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有濾波器測試菜單，可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標（包括帶寬，中心頻點頻率、Q值，左截止頻率、右截止頻率等）和阻帶指標（包括動態(tài)范圍，隔離度等）。具有：

• 快速準確的分段掃描；

• 一目了然的校準向?qū)В?/p>

• 快捷的高精度電子校準技術(shù)；

• 通帶和阻帶指標一次測量完成。

 
一體化脈沖S參數(shù)測試

3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有脈沖調(diào)制信號輸出，可以完成脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測試。具有：

• 內(nèi)置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器，端口1、3可輸出脈沖調(diào)制信號；

• 完整的脈沖解決方案，可在寬帶模式和窄帶模式下進行脈沖內(nèi)定點、脈沖包絡(luò)和掃頻脈沖測量；

• 可與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器同步，實現(xiàn)復雜脈沖同步測試。

自動化測試

通過GPIB總線接口、網(wǎng)口提供靈活多樣的控制方式，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可。為您提供一體化自動測試方案，包括自動校準、自動測量、自動讀取、自動打印等。具有：

• 簡單的控制方式，一根網(wǎng)線、一個GPIB卡；

• 有效的降低成本，解放有限的人力資源；

• 在有效的時間內(nèi)完成更多的測試，大大縮短開發(fā)周期；

• 完成人工不可能完成的任務(wù)，如精確時間控制，復雜環(huán)境下的測試等。

 
高速信號完整性測試

• 支持多端口Touchstone 格式的S參數(shù)導出，并且支持大端口數(shù)據(jù)導入

• 支持時域TDR 的快速測試與顯示

• 支持混合模S參數(shù)的快速定義和測試

• 方便設(shè)置差分對和設(shè)置串擾里的攻擊線和受害線，求取近端串擾和遠端串擾

• 內(nèi)置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪圖

• 支持眼圖生成，內(nèi)置眼圖的模板測試功能

• 支持行業(yè)標準電氣層測試，包含USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等，并可以自定義標準

• 內(nèi)置延時和抖動計算模塊，方便進行對內(nèi)延時和對間延時計算

• 包含調(diào)整端口順序、S 參數(shù)拆分和S 參數(shù)合并等專業(yè)S 參數(shù)處理功能

• 內(nèi)置報告模板，一鍵式繪制各種曲線，自動生成相應的word 和ppt文檔

• 內(nèi)嵌多種去嵌方法，其中自動直通夾具去嵌則用于移除測試夾具的影響，從而獲得被測器件的S 參數(shù)；自動端口延伸可方便的利用開路或短路補償夾具的損耗和相位，減少夾具對測試結(jié)果的影響。

時域的TDR

繪制TDR時域阻抗曲線。

便捷多端口差分對設(shè)置和處理

提供了更簡便的方法設(shè)置差分對和豐富的后處理功能。

串擾

便捷的近端與遠端串擾測試。

內(nèi)置了FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR。

眼圖

可進行基于S參數(shù)的眼圖生成和評估，并內(nèi)置眼圖模板功能。

設(shè)計標準

支持設(shè)計標準測試：USB Type C、IEEE 802.3ap、IEEE 802.3ba 和IEEE 802.3bj 等。

自動直通夾具去嵌

內(nèi)置了自動直通夾具去嵌的方法來移除測試夾具對被測器件的影響。

計算延時和抖動

內(nèi)置了單端信號和差分信號的延時計算以及每一個差分對兩個端口之間的偏差計算。